材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀

更新時間：2024-08-06

簡要描述：材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

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LJD系列材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀標準：
ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；

LJD系列介電常數(shù)介質損耗測試儀

一、符合標準：

ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法；

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測試方法；

二、 材料耐電壓擊穿測試介電常數(shù)測試儀主機及夾具參數(shù)：

項目/型號	LJD-B	LJD-A	LJD-C
信號源	DDS數(shù)字合成信號
頻率范圍	10KHZ-70MHZ	10KHZ-110MHZ	100KHZ-160MHZ
信號源頻率覆蓋比	7000:1	11000:1	16000:1
采樣精度	11BIT		12BIT
信號源頻率精度	3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
Q值測量范圍	1～1000自動/手動量程
Q值量程分檔	30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔
Q分辨率	4位有效數(shù)，分辨率0.1
Q測量工作誤差	＜5%
電感測量范圍	1nH～8.4H,；分辨率0.1		1nH～140mH；分辨率0.1
電感測量誤差	＜3%
電容直接測量范圍	1pF～2.5uF		1pF～25uF
調諧電容誤差分辨率	±1pF或＜1%
主電容調節(jié)范圍	30～540pF		17～240pF
諧振點搜索	自動掃描
自身殘余電感扣除功能	有
大電容值直接顯示功能	有
介質損耗直讀功能	有
介質損耗系數(shù)精度	萬分之一
介質損耗測試范圍	0.0001-1
介電常數(shù)直讀功能	有
介電常數(shù)精度	千分之一
介電常數(shù)測試范圍	0-1000
LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,LT,CT,波段等
準確度	150pF以下±1pF；150pF以上±1%
Q合格預置范圍	5～1000聲光提示
環(huán)境溫度	0℃～+40℃
消耗功率	約25W
電源	220V±22V，50Hz±2.5Hz
極片尺寸	38mm/50mm(二選一)
極片間距可調范圍	≥15mm
材料測試厚度	0.1-10mm
夾具插頭間距	25mm±0.01mm
夾具損耗正切值	≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率	0.001mm
測試極片	材料測量直徑Φ38mm/50mm，厚度可調 ≥ 15mm